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Optische Mikrometer, die berührungslos nach dem Prinzip der Abschattung bzw. Lichtmengenmessung die Dimension und Position des Messobjektes bestimmen.
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ALUMINIUM (Essen, DE) 14.09.2010 - 16.09.2010
K 2010 (Düsseldorf, DE) 27.10.2010 - 03.11.2010
Electronica (München, DE) 09.11.2010 - 12.11.2010
MICRO-EPSILON (SWISS) AG
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