Streifenlichtprojektion zur Defekterkennung
31.05.2011
Konnten per Deflektometrie bisher nur glänzende Oberflächen auf Defekte untersucht werden, übernimmt die neue Streifenlichtprojektion diese Aufgabe für matte Objekte und ergänzt damit das Portfolio der Defekterkennung auf Oberflächen nahezu ideal. Über dieses Know-How verfügt die Magdeburger INB Vision AG, die seit Ende 2010 zu Micro-Epsilon gehört.
Die von INB entwickelten Lösungen können mit zwei oder mehr Kameras und einem Projektor Flächen von wenigen cm² bis zu etwa 1 m² als 3D-Punktewolke erfassen. Die INB verfügt über einen umfangreichen Erfahrungsschatz in der Konfiguration der Sensoren, sowie über alle notwendigen Softwaremodule für die Berechnung der 3D-Daten. Diese Sensoren eignen sich für alle Oberflächen, die mindestens einen Teil des Lichtes diffus reflektieren. Das sind z.B. Stahl, Aluminium, Kunststoffe oder Keramik. Typische Applikationen dieser Technologie liegen in der Oberplächenprüfung im Bereich Presswerk und Karosseriebau, oder aber auch in der Qualitätskontrolle von Interieurteilen und Instrumententrägern der Automobilbranche.
Eine wesentliche Kernkompetenz ist die Auswertung von 3D-Daten mittels künstlicher neuronaler Netze. Dafür wurde ein spezieller Assoziativspeicher entwickelt, der mit guten, fehlerfreien Bauteilen trainiert wird. An Hand dieser Daten ist die Software in der Lage, Abweichungen von den fehlerfreien Bauteilen, die zum Teil deutlich kleiner als die geometrischen Toleranzen der Bauteile sind, sicher zu erkennen und objektiv zu beurteilen.
Weiterhin hat die INB einen digitalen Abziehstein entwickelt, der analog den in der Automobilindustrie häufig eingesetzten Abziehsteinen in der Lage ist, Einfallstellen zu finden und dimensionell zu bewerten.
Weitere Informationen zur Technik und INB unter www.inb-vision.com.