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Merkliste (0)Deflektometrie-Oberflächeninspektion in der Prozesslinie (RC compact)
Bei Objekten in etwa DIN A4 Größe wird RC compact zur zuverlässigen Fehlerdetektion auf spiegelnden Oberflächen verwendet. Dabei kann die Messstation je nach Objekt und Anforderung automatisch oder manuell beschickt werden.
Details
Für Messobjekte bis DIN A4 Format
Messtisch in bis zu 3 Achsen verkippbar
Variable Anlagendimensionen für größere Messobjekte
Gesicherte Anlage durch Lichtvorhang
MICRO-EPSILON (SWISS) AG
(+41) 71 250 08 38
(+41) 71 250 08 69
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