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Mess- und Prüfsysteme für die Halbleiterindustrie

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Waferkanteninspektion Ingot-Geometrie--34pxGeometrieprüfsystem für Silizium-Bricks

Inspektionsaufgaben in der Halbleiterindustrie erfordern extreme Genauigkeit und Zuverlässigkeit. Optische Inspektionssysteme von Micro-Epsilon überzeugen durch bestechende Präzision.

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Hohe Präzision
Innovative Messsysteme
Qualitätssteigernd
Höhere Prozesssicherheit

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MICRO-EPSILON (SWISS) AG

Phone (+41) 71 250 08 38
Fax (+41) 71 250 08 69
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