Das neue High-Performance LED-Mikrometer optoCONTROL 2700 ermöglicht unübertroffene Genauigkeit für anspruchsvolle Messaufgaben. Dicke, Spalt, Kanten und Segmente lassen sich damit hochgenau messen. Dabei können präzise Messungen von kleinen Objekten ab 0,3 mm durchgeführt werden. Das LED-Präzisionsmikrometer bietet eine Linearität von 1 µm und eine digitale Auflösung von 10 nm. Eingesetzt wird es beispielsweise in der Halbleiterfertigung, Automobilindustrie, Luft- und Raumfahrt sowie der Medizintechnik.
Entscheidender Vorteil ist die telezentrische Optik, die die Messgenauigkeit deutlich optimiert. Das Messobjekt wird gleichmäßig ausgeleuchtet, zudem sorgt die Echtzeit-Neigungskorrektur auch bei schräg platzierten oder gekippten Messobjekten für äußerst genaue Messergebnisse. Eine orthogonale Ausrichtung des Messobjekts ist dadurch nicht notwendig.
Egal ob es sich um hochspiegelnde Objekte wie Walzen oder transparente Objekte wie Glaswafer handelt – überall dort, wo höchste Präzision und Zuverlässigkeit erforderlich sind, bieten diese innovativen Mikrometer eine optimale Lösung.
Zusätzlich zur präzisen Messung bietet die integrierte Verschmutzungserkennung eine proaktive Lösung zur Erkennung von Verunreinigungen oder Fremdkörpern auf der Messfläche. Diese Funktion trägt dazu bei, Messfehler zu vermeiden und die Qualität der Ergebnisse auf höchstes Niveau zu heben.
Dank des integrierten Controllers wird kein externes Steuergerät benötigt und die Zeit für Verkabelung und Montage auf ein Minimum reduziert.
Die gesamte Konfiguration des LED-Mikrometers erfolgt über das integrierte Webinterface. Das Webinterface wird über die Ethernet-Schnittstelle aufgerufen und ermöglicht die schnelle und einfache Einstellung von z.B. Mittelung oder Messrate und bietet umfangreiche Parametriermöglichkeiten für jede Messaufgabe.
Sechs voreingestellte Presets ermöglichen ein schnelles und einfaches Einrichten auf die Messaufgabe. Das Webinterface bietet zudem ein skalierbares Schwarz-Weiß-Bild zur einfachen Ausrichtung. Damit ist es nun grafisch möglich das Mikrometer oder das Messobjekt optimal zu positionieren.