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Vollflächige 3D-Deflektometrie für große Waferoberflächen

Vollflächige 3D-Deflektometrie für große Waferoberflächen

Der neue reflectCONTROL RCS3500-300 erfasst die komplette Oberfläche von Wafern mit Durchmesser von bis zu 300 mm in nur einer Aufnahme. Die vollflächige 3D-Deflektometrie ermöglicht eine präzise Erfassung von Warpage, Bow und lokalen Verformungen…

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Maximaler Messbereich trifft kompakte Bauform

Maximaler Messbereich trifft robuste Bauform

Der neue Seilzugsensor wireSENSOR K140 hebt den Messbereich der K-Serie auf bis zu 12 m und bewahrt dabei die kompakte Bauform und robuste Ausführung im glasfaserverstärkten Kunststoffgehäuse. Diese Kombination macht ihn zur wirtschaftlichen Lösung…

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Bis zu 8 Messzonen mit einem Sensor überwachen

Bis zu 8 Messzonen mit einem Sensor überwachen

Die neue MultiROI-Funktion des optoCONTROL 2700 ermöglicht die separate Überwachung und Auswertung von bis zu 8 individuellen Messzonen innerhalb eines Messbereichs. So erkennt das System zum Beispiel bei der Draht- und Fadenbruchkontrolle nicht nur,…

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3D-Messtechnik der nächsten Generation

3D-Messtechnik der nächsten Generation

Der neue confocalLINE CLI8500 vereint die Vorteile konfokaler Sensoren mit intelligenter 3D-Scantechnologie. Hochpräzise, hochdynamisch und mit SMART 3D-Auswertung direkt im Sensor: Die confocalLINE Sensoren setzen neue Maßstäbe in der industriellen…

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