Laser-Scanner ermöglichen schnelle und effiziente Analysen von Bohrkern- und Mineralproben

14.07.2021

Laser-Scanner von Micro-Epsilon werden zur geologischen Analyse von Bohrkern- und Mineralproben eingesetzt. Das Unternehmen Cox Analytical Systems vertraut in seinen speziellen Röntgen-Analysegeräten (XRF-Scanner) auf die Technologie des Sensorspezialisten.

Zur geologischen Analyse von Bohrkern- und Mineralproben bietet Cox spezielle Röntgen-Analysegeräte (XRF-Scanner) an. Die Röntgen-Analysegeräte von Cox Analytical Systems ermöglichen Probenanalysen für nahezu alle Elemente des Periodensystems in einem Messdurchlauf. Damit die Systeme möglichst schnell und genau arbeiten, sind Laser-Profil-Scanner der Serie scanCONTROL integriert. Der EDXRF-Messkopf (Energy Dispersive X-Ray Fluorescence) bewegt sich etwa 1 mm über der Probenoberfläche, während er analytische Daten aufzeichnet. Um größere Proben in kurzer Zeit abzuscannen, muss der Kopf schnell und sicher über die Probenoberfläche geführt werden. Die Micro-Epsilon Laser-Profil-Scanner stellen den kleinen und präzisen Abstand zur Probenoberfläche sicher. Zur automatischen Nachregelung und Steuerung des Messkopfs werden die Messdaten des Laser-Scanners per Ethernet an die Steuerung des Analysegerätes übertragen.

Darüber hinaus liefern die hochpräzisen Laser-Scanner nicht nur Informationen über den Abstand zur Probenoberfläche, sondern auch über das Oberflächenprofil (kreisförmig oder flach) und Unebenheiten. Auch diese Informationen werden im Analysegerät verarbeitet und sind insbesondere für das Scannen von Proben, ohne vorherige Probenpräparation, von Vorteil.

Damit tragen die Micro-Epsilon Scanner dazu bei, aufwendige Laborarbeit von mehreren Monaten auf wenige Minuten Scan-Zeit zu reduzieren. Die kompakten All-in-One Sensoren sind ideal für die direkte Integration geeignet. Der Sensor arbeitet ohne externen Controller, zudem ist das Gehäuse klein, leicht und mit direktem Ethernet-Ausgang versehen, wodurch es sich auch bei beengtem Bauraum integrieren lässt. Die Belichtungsregelung sorgt für stabile Messwerte auf verschiedensten Probenoberflächen.

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